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日本nanogray X射線測(cè)厚儀SX-1100
更新日期：2024-05-15
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
日本nanogray X射線測(cè)厚儀SX-1100
測(cè)厚儀（薄膜測(cè)厚儀）使用軟X射線（soft X-rays）。以非接觸方式（軟 X 射線）測(cè)量片材和板狀物體的厚度和密度（基重）。不是直接測(cè)量厚度，而是通過(guò)與參考物質(zhì)比較來(lái)計(jì)算厚度和密度（基重）。
通常，為了測(cè)量片材寬度方向的厚度分布，檢測(cè)系統(tǒng)由掃描儀攜帶進(jìn)行測(cè)量。激光位移計(jì)一般用作非接觸方式測(cè)量厚度的手段，但如果激光位移計(jì)安裝在掃描儀上，在運(yùn)輸過(guò)程中只能以遠(yuǎn)低于激光位移計(jì)的精度進(jìn)行運(yùn)輸, 導(dǎo)致結(jié)果. 高精度測(cè)量是困難的。
另一方面，在X射線測(cè)厚儀等通過(guò)透射衰減估算厚度的方法中，測(cè)量的是空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減，但樣品的衰減遠(yuǎn)大于，傳輸?shù)挠绊懼槐憩F(xiàn)為空氣層厚度的變化，影響很小。因此，可以高精度地進(jìn)行測(cè)量。
軟X射線測(cè)厚儀的一般特點(diǎn)
無(wú)需規(guī)定輻射處理負(fù)責(zé)人或X射線工作負(fù)責(zé)人或設(shè)置控制區(qū)域
（需要通知?jiǎng)趧?dòng)標(biāo)準(zhǔn)檢查辦公室）路徑錯(cuò)誤可以忽略
高元素依賴性
與傳統(tǒng)的軟 X 射線測(cè)厚儀相比，我們的軟 X 射線測(cè)厚儀的特點(diǎn)
探測(cè)器和 X 射線源結(jié)構(gòu)緊湊、重量輕，甚至可以安裝在狹窄的線路中。
測(cè)量范圍廣（材料/厚度）
用途
銅箔、鋁箔、不銹鋼箔
電池電極
陶瓷（薄片、晶片）
玻璃纖維布
日本nanogray X射線測(cè)厚儀SX-1100
X射線測(cè)厚儀SX-1100規(guī)格 | |
| 物品 | 規(guī)格 |
|---|---|
| 姓名 | X射線測(cè)厚儀SX-1100 |
| 測(cè)量方法 | X射線透射法 |
| 檢測(cè)方法 | 閃爍探測(cè)器法 |
| 測(cè)量對(duì)象 | 根據(jù)薄膜、箔等測(cè)量對(duì)象進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì) |
| 測(cè)量間距 | 標(biāo)準(zhǔn)2mm（也可提供更細(xì)間距） |
| 掃描寬度 | 標(biāo)準(zhǔn)150-3000mm（也可提供其他寬度） |
| 掃描速度 | 15-200 毫米/秒（標(biāo)準(zhǔn)） |
| 框架結(jié)構(gòu) | O型及其他各種車架 |
| 光斑尺寸 | 約φ7.5mm（標(biāo)準(zhǔn)）（工作中） |
| X射線源 | 70 x 83 毫米 x 250 毫米（標(biāo)準(zhǔn)） |
| 檢測(cè)單元 | 70 x 83 毫米 x 220 毫米（標(biāo)準(zhǔn)） |
| 電源 | 100V單相1kVA |
