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熒光X射線測量儀XAN ®系列

熒光X射線測量儀XAN ®系列

更新日期：2024-05-14

訪問量：963

廠商性質：經銷商

生產地址：

簡要描述：
熒光X射線測量儀XAN ®系列
FISCHERSCOPE ® X 射線 XAN ®
它是一種從底部照射型緊湊設計的熒光 X 射線膜厚測量儀。它也是珠寶和貴金屬的質量控制以及購買評估等測量的理想選擇。

熒光X射線測量儀XAN ®系列

熒光X射線測量儀XAN ®系列

日本進口fischer熒光X射線測量儀XAN ®系列

特征

  • 由于測量方向是從下方照射的，因此樣品定位很容易。
  • 配備硅漂移檢測器，可實現高分辨率和高靈敏度測量（XAN250、XAN252）
  • 緊湊的設計

主要規(guī)格

從底部看是輻照式熒光X射線膜厚測量和材料分析儀。X 射線探測器有多種組合，例如半導體探測器 (PIN)、硅漂移探測器 (SDD)、可電動更換的濾波器和準直器。

模型XAN 215
測量元件范圍氯 (17) -U (92)
X射線探測器半導體探測器（PIN）
X射線管微調焦管
初級過濾器1種固定
準直器數量/尺寸1型固定/Φ1mm
車身尺寸403 x 588 x 365mm（寬x深x高）
測量室尺寸310 x 320 x 90mm（寬x深x高）
能量消耗高達 120W
模型XAN 250
測量元件范圍鋁 (13) -U (92)
X射線探測器硅漂移探測器 (SDD)
X射線管微調焦管
初級過濾器6種
準直器數量/尺寸4種/Φ0.2mm～Φ2mm
車身尺寸403 x 588 x 365mm（寬x深x高）
測量室尺寸310 x 320 x 90mm（寬x深x高）
能量消耗高達 120W
模型第252章
測量元件范圍鋁 (13) -U (92)
X射線探測器硅漂移探測器 (SDD)
X射線管微調焦管
初級過濾器6種
準直器數量/尺寸4種/Φ0.2mm～Φ2mm
車身尺寸403 x 588 x 444mm（寬 x 深 x 高）
測量室尺寸310 x 320 x 174mm（寬 x 深 x 高）
能量消耗高達 120W
其他帶手動 XY 平臺

主要應用

  • 珠寶和貴金屬的質量控制和采購評估
  • 同時測量合金材料分析和鍍層厚度
  • 多層鍍膜厚度測量及基材成分分析

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